光耦参数测试仪型号:JFY3010A
JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍 ※概述: JFY3010A光耦参数测试仪,是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。 ※ 测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦 ※ 测量参数:
参数指标表:
参数項
测试参数
测试条件设置
输入正向压降(VF)
0-2.000V
0-400MA
耐压(BVCEO)
0-1200V
0-2.000MA
传输比(CTR)
0-3000
VCE:0-20V IC:0-2.000A
饱和压降(Vsat)
IF:0-400MA IC:0-2.00A
苏经理
18910534055
18910554055