能量色散X荧光检测仪  型号： CIT-3000SM 
于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在生产过程中对产品质量进行监测； 
1.CIT-3000SM产品配置：  
 采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI（PIN）半导体探测器系列  
 采用*数字脉冲采集电路及电源管理技术  
 采用进口X光管  
 采用专用的X射线发生器  
 采用RS232串口通讯  
 采用精密的系统控制电路和数字处理电路  
 采用专有的分析算法软件模块V2.0A  
 配备电脑  
 配备常用的制样工具  
 配备压片机  
 配备测试样环  
 配备测试硬标样  
    2. CIT-3000SM 技术指标： 
 分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；  
 元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；  
 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合数字脉冲处理技术；  
 测量范围：1－30KeV；   
 管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）；  
 管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；  
 整机功率：50W；  
 整机能量分辨率：150±5eV；  
 检测时间： <200S；  
 工作环境温度：温度0-40℃；  
 工作环境相对湿度：≤99%（不结露）；  
 测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；  
 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短；