半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D

  
该系列仪器的技术指标均满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求，整机功能采用美国微电脑控制处理技术及上SMT芯片贴片封装技术和半导体激光传感器技术及防噪声气泵，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。该系列仪器性能设计先进、质量稳定可靠

半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D

  
　　该系列产品已被广泛应用于洁净室检测；过滤器现场检测、捡漏；可监测净工作台、生物安全柜，HVAC系统，计算机室、饮料包装环境，医疗器械生产环境，医院洁净手术室，汽车喷涂环境微电子、制药、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范及电子生产企业的仪器。 半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D

主要技术参数及性能：

半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D

1.光源: 全半导体 激光光源
2.采样量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.检测范围: 100级～100万级 
4.允许被测试空气的含尘浓度≯10 万颗/2.83L
5.粒径通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六档
6.显示或打印可将2.83升/分内所含颗粒转换成1m3所含颗粒数。
7.采样周期: 1～10 (min)
8.自净时间: ≤15 (min)
9.校准：可追溯美国国家标准技术协会（NIST）
10.工作环境: 温度:10～35℃    相对温度: 20～75%RH
11.Z大功耗: 25W
12.测量温度和湿度的范围与精度：（选购）
（1）         温度：0～50℃±1℃
（2）         湿度：0～100%RH±5%
13.采样点数   2～7点设定
14.每点采样次数   2～9次设定
15.UCL报表：符合FS-209E、中国GMP的标准
16.工作时间：8 小时
17.电源： AC220V±10%    50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六档粒径尘埃浓度同时检测，依次数字显示或自选粒径显示。
21.备注: 内置打印机、自动判断净化等级、等动力采样头、采样架