光耦参数测试仪简介

发布日期：2021-04-13      浏览次数：411

光耦参数测试仪 型号：JFY3092B

JFY3092B光耦参数测试仪技术指标
5.1.1 耐压(BVCEO BVECO)

 

测试范围	分辨率	精度	测试条件
0-1000V	0.1V	<1%+2RD	0-2mA

 

 
5.1.2输入正向压降(VF)

 

测试范围	分辨率	精度	测试条件
0-10V	1mV	<1%+2RD	0-400MA

 

 
5.1.3输出端反向漏电流(ICEO)

 

测试范围	分辨率	精度	测试条件
0-2000uA	1nA	<5% +5RD	0-1000V（+/-1%）

 

5.1.4反向漏电流(IR)

 

测试范围	分辨率	精度	测试条件
0-2000uA	10nA	<5% +5RD	VR=0-10V（+/-1%）

 

 
5.1.5电流传输比(CTR)

 

测试范围	分辨率	精度	测试条件
0-9999	1%	1% +5RD	BVCE：0-10V IF:0-400MA （+/-1%）

 

5.1.6输出导通压降(VCE(sat))

 

测试范围	分辨率	精度	测试条件
0-10.000V	1mV	1% +5RD	IC：0-400mA IF:0-400mA （+/-1%）

 

 
5.1.7：可同时测通道数：1通道，2通道 4通道
5.1.8:可分档位总数：16
5.1.9可连接机械手测试。