更新时间:2024-11-06
色彩色差仪 型号:WF30-16mm 型号WF30 显示模式(颜色空间)CIELAB、CIELCH 色差公式△E*ab 照明方式CIE推荐方式:8/d、45/0 二选一 光源蓝光激发LED 感应器数字型二管阵列 测量口径φ4mm/φ8mm/φ16mm 可选
色彩色差仪 型号:WF30-16mm
型号WF30
显示模式(颜色空间)CIELAB、CIELCH
色差公式△E*ab
照明方式CIE推荐方式:8/d、45/0 二选一
光源蓝光激发LED
感应器数字型二管阵列
测量口径φ4mm/φ8mm/φ16mm 可选
测量条件观察者:CIE 10° 标准观察者
标准光源: D50 D65 F11(TL84)
含光方式:SCI SCE
量程L: 0 to 100
重复精度△E<0.05 (测量白板30次取平均值)
色彩色差仪 台间差△E<0.2
测量间隔0.5秒
数据存储标样: 100 试样: 20000
语言选择English/简体中文
电池充电时间8小时
电池锂电池充满电可测量5000次以上
光源寿命5年或大于160万次测量
屏幕TFT真彩2.8inch@(16:9),分辨率:400x240
接口USB2.0 (USB-B型)、RS-232 (115200bps)
工作温度0℃-40℃(32℉-104℉)
存放温度-20℃-50℃(-4℉-122℉)
湿度范围相对湿度低于 85%,无凝露
重量700g
尺寸199*68*90mm
外包装尺寸400*240*340mm
标准配件3000mAH锂电池、电源适配器、USB数据线、《颜色分析系统》
光盘、说明书、保修卡
产品名称:方块电阻测试仪 电阻测试仪 产品型号: ST-21 |
方块电阻测试仪 电阻测试仪 型号: ST-21
方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
◆ 特点:
1 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3 采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6 探头带抗静电模块
◆ 技术指标:
测量范围 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;
恒流源 测量过程误差:≤±0.8%
模数转换器 量程:0~199.99mv;
分辨率:10μv;
方式:LCD大屏幕显示;性,量程均自动显示;小数点同步显示;
测量不确定度 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500MΩ
电源 9V叠层电池1节